近年來，非制冷熱紅外顯微鏡價格呈下行趨勢。在技術進步層面，國內紅外焦平面陣列芯片技術不斷突破，像元間距縮小、陣列規模擴大，從早期的 17μm、384×288 發展到如今主流的 12μm 像元，1280 ×1 024、1920 × 1080 陣列規模實現量產，如大立科技等企業推動技術升級，提升生產效率，降低單臺設備成本。同時，國產化進程加速，多家本土廠商崛起，如我司推出非制冷型鎖相紅外顯微鏡，打破進口壟斷格局，市場競爭加劇，促使產品價格更加親民。熱紅外顯微鏡對電子元件進行無損熱檢測，保障元件完整性 。檢測用熱紅外顯微鏡對比

非制冷熱紅外顯微鏡的售價因品牌、性能、功能配置等因素而呈現較大差異 。不過國產的非制冷熱紅外顯微鏡在價格上頗具競爭力，適合長時間動態監測。通過鎖相熱成像等技術優化后，其靈敏度（通常 0.01-0.1℃）和分辨率（普遍 5-20μm）雖稍遜于制冷型，但性價比更具優勢。與制冷型相比，非制冷型無需制冷耗材，適用于 PCB、PCBA 等常規電子元件的失效分析；制冷型靈敏度更高（可達 0.1mK）、分辨率更低（低至 2μm），多用于半導體晶圓等對檢測要求較高的場景。非制冷熱紅外顯微鏡在中低端工業檢測領域應用較多。什么是熱紅外顯微鏡按需定制熱紅外顯微鏡結合自研算法，對微弱熱信號進行定位分析，鎖定潛在缺陷 。

從傳統熱發射顯微鏡到致晟光電熱紅外顯微鏡的技術進化，不只是觀測精度與靈敏度的提升，更實現了對先進制程研發需求的深度適配。它以微觀熱信號為紐帶，串聯起芯片設計、制造與可靠性評估全流程。在設計環節助力優化熱布局，制造階段輔助排查熱相關缺陷，可靠性評估時提供精細熱數據。這種全鏈條支撐，為半導體產業突破先進制程的熱壁壘提供了扎實技術保障，助力研發更小巧、運算更快、性能更可靠的芯片，推動其從實驗室研發穩步邁向量產應用。

紅外顯微鏡（非熱紅外）與熱紅外顯微鏡應用領域各有側重。前者側重成分分析，在材料科學中用于檢測復合材料界面成分、涂層均勻性及表面污染物；生物醫藥領域可識別生物組織中蛋白質等分子分布，輔助診斷；地質學和考古學中能鑒定礦物組成與文物顏料成分；食品農業領域則用于檢測添加劑、農藥殘留及農作物成分。熱紅外顯微鏡聚焦溫度與熱特性研究，電子半導體領域可定位芯片熱點、評估散熱性能；材料研究中測試熱分布均勻性與熱擴散系數；生物醫藥領域監測細胞代謝熱分布及組織熱傳導；工業質檢能檢測機械零件隱形缺陷，評估電池充放電溫度變化。二者應用有交叉，但分別為成分分析與熱特性研究。熱紅外顯微鏡可用于研究電子元件在不同環境下的熱行為 。

車規級芯片作為汽車電子系統的重心，其可靠性直接關系到汽車的安全運行，失效分析是對提升芯片質量、保障行車安全意義重大。在車規級芯片失效分析中，熱紅外顯微鏡發揮著關鍵作用。芯片失效常伴隨異常發熱，通過熱紅外顯微鏡分析其溫度分布，能定位失效相關的熱點區域。比如，芯片內部電路短路、元器件老化等故障，會導致局部溫度驟升形成明顯熱點。從而快速定位潛在的故障點，為功率模塊的失效分析提供了強有力的工具。可以更好的幫助車企優化芯片良率與安全性。熱紅外顯微鏡通過熱輻射相位差算法，三維定位 3D 封裝中 Z 軸方向的失效層。紅外光譜熱紅外顯微鏡品牌

熱紅外顯微鏡通過納秒級瞬態熱捕捉，揭示高速芯片開關過程的瞬態熱失效機理。檢測用熱紅外顯微鏡對比

熱點區域對應高溫部位，可能是發熱源或故障點；等溫線連接溫度相同點，能直觀呈現溫度梯度與熱量傳導規律。目前市面上多數設備受紅外波長及探測器性能限制，普遍存在熱點分散、噪點多的問題，導致發熱區域定位不準，圖像對比度和清晰度下降，影響溫度分布判斷的準確性。

而我方設備優勢是設備抗干擾能力強，可有效減少外界環境及內部器件噪聲影響，保障圖像穩定可靠；等溫線明顯，能清晰展現溫度相同區域，便于快速掌握溫度梯度與熱傳導情況，提升熱特性分析精度；成像效果大幅提升，具備更高的空間分辨率、溫度分辨率及對比度，可清晰呈現細微細節，為分析提供高質量的圖像支持。 檢測用熱紅外顯微鏡對比

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