深圳市欣同達科技有限公司2025-05-01

在 LTOL（低溫操作壽命測試）中，欣同達老煉座展現出優異性能。低溫環境對電子元器件是極大考驗，傳統插座在低溫下易因材料脆化導致接觸不良。欣同達老煉座使用特殊合金材料，這種材料具備抵御低溫脆化的特性，可確保在低溫環境中保持良好接觸性能。例如在零下幾十攝氏度的 LTOL 測試環境下，對某款要求低溫性能的芯片進行測試，使用欣同達老煉座，整個測試過程中，芯片與測試設備之間的連接穩定，未出現因插座問題導致的測試中斷或數據偏差。其設計充分考慮低溫環境對材料和結構的影響，從插座內部接觸彈片到外部外殼材質，都經過精心篩選和優化，有效減少因接觸不良導致的測試誤差，為芯片在低溫條件下的可靠性和性能評估提供有力保障 。?

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