AFAM 的基本原理是利用探針與樣品的接觸振動來對材料納米尺度的彈性性能進行成像或測量。AFAM 于20 世紀90 年代中期由德國薩爾布呂肯無損檢測研究所的Rabe 博士(女) 首先提出，較初為單點測量模式。2000 年前后，她們采用逐點掃頻的方式實現了模量成像功能，但是成像的速度很慢，一幅128×128 像素的圖像需要大約30min，導致圖像的熱漂移比較嚴重。2005 年，美國國家標準局的Hurley 博士(女) 采用DSP 電路控制掃頻和探針的移動，將成像速度提高了4~5倍(一幅256×256 像素的圖像需要大約25min)。納米力學測試可以幫助研究人員了解納米材料的疲勞行為，從而改進納米材料的設計和制備工藝。深圳微電子納米力學測試設備

納米硬度計主要由移動線圈、加載單元、金剛石壓頭和控制單元4部分組成。壓頭及其所在軸的運動由移動線圈控制，改變線圈電流的大小即可實現壓頭的軸向位移，帶動壓頭垂直壓向試件表面，在試件表面產生壓力。移動線圈設計的關鍵在于既要滿足較大量程的需要，還必須有很高的分辨率，以實現納米級的位移和精確測量。壓頭載荷的測量和控制是通過應變儀來實現的。應變儀發出的信號再反饋到移動線圈上．如此可進行閉環控制，以實現限定載荷和壓深痕實驗。整個壓入過程完全由微機自動控制進行。可在線測量位移與相應的載荷，并建立兩者之間的關系壓頭大多為金剛石壓頭，常用的壓頭有Berkovich壓頭、Cube Corner壓頭和Conical壓頭。深圳微電子納米力學測試廠家隨著納米技術的不斷發展，納米力學測試技術也在不斷更新換代，以適應更高精度的測試需求。

銀微納米材料，微納米材料的性能受到其形貌的影響,不同維度類型的銀微納米材料有著不同的應用范圍。零維的銀納米材料包括銀原子和粒徑小于15nm 的銀納米粉，主要提高催化性能、 抗細菌及光性能:一維的銀納米線由化學還原法制備，主要用于透明納米銀線薄膜制備的柔性電子器件;二維的銀微納米片可用球磨法、光誘導法、模板法等方法制備，其在導電漿料及電子元器件等方面有普遍的應用:三維的銀微納米材料包括球形和異形銀粉，球形銀粉主要用于導電漿料填充物，異形銀粉主要應用催化、光學等方面。改善制備方法，實現微納米材雨的形貌授制，提升產物穩定性，是銀納米材料研究的發展方向。預覽與源文檔一致,下載高清無水印微納米技術是一門擁有廣闊應用前景的高新技術，不只在材料科學領域，微納米材料有著普遍的應用，在日常生活和工業生產中，微納米材料的應用實例不勝枚舉。

原位納米片取樣和力學測試技術，原位納米片取樣和力學測試技術是一種新興的納米尺度力學測試方法，其基本原理是利用優化的離子束打造方法，在含有待測塑料表面的納米區域內制備出超薄的平面固體材料，再對其進行拉伸、扭曲等力學測試。相比于傳統的拉伸試驗等方法，原位納米片取樣技術具有更優的尺寸控制和納米量級精度，可以為納米尺度力學測試提供更加準確的數據。總之，原位納米力學測量技術的研究及應用是未來納米材料科學發展的重要方向之一，將為納米材料的設計、開發以及工業應用等領域的發展做出積極貢獻。納米力學測試在納米器件的設計和制造中具有重要作用。

納米力學性能測試系統是一款可在SEM/FIB中對微納米材料和結構的力學性能進行原位、直接而準確測量的納米機器人系統。測試原理是通過微力傳感探針對微納結構施加可控的力,同時采用位移記錄器來測量該結構的形變。從測得的力和形變(應力-應變)曲線可以定量地分析微納米結構的力學性能。通過控制加載力的大小和方向,可實現拉伸、壓縮、斷裂、疲勞和蠕變等各種力學測試。同時,其配備的導電樣品測試平臺可以對微納米結構的電學和力學性能進行同步測試。碳納米管、石墨烯等納米材料，因獨特力學性能，備受關注。福建涂層納米力學測試廠商

納米力學測試可以幫助研究人員了解納米材料的力學性能與結構之間的關系，為納米材料的設計和優化提供指導。深圳微電子納米力學測試設備

2005 年，中國科學院上海硅酸鹽研究所的曾華榮研究員在國內率先單獨開發出定頻成像模式的AFAM，但不能測量模量。隨后，同濟大學、北京工業大學等單位也對這種成像模式進行了研究。2011 年初，我們研究組將雙頻共振追蹤技術用于AFAM，實現了快速的納米模量成像(一幅256×256 像素的圖像只需1~2min)，并對其準確度和靈敏度進行了系統研究。較近幾年，AFAM 引起了越來越多國內外學者的關注。然而，相對于其他AFM 模式，AFAM 的測量原理涉及梁振動力學和接觸力學，初學者不容易掌握。深圳微電子納米力學測試設備