圖2為本申請實施例提供的剝離液機臺的第二種結構示意圖。圖3為本申請實施例提供的剝離液機臺的第三種結構示意圖。圖4為本申請實施例提供的剝離液機臺的第四種結構示意圖。圖5為本申請實施例提供的剝離液機臺的工作方法的流程示意圖。具體實施方式目前剝離液機臺在工作時，如果過濾剝離光阻時產生的薄膜碎屑的過濾器被阻塞，則需要剝離液機臺內的所有工作單元，待被阻塞的過濾器被清理后，才能重新進行剝離制程，使得機臺需頻繁停線以更換過濾器，極大的降低了生產效率。請參閱圖1，圖1為本申請實施例提供的過濾液機臺100的種結構示意圖。本申請實施例提供一種剝離液機臺100，包括：依次順序排列的多級腔室10、每一級所述腔室10對應連接一存儲箱20；過濾器30，所述過濾器30的一端設置通過管道40與當前級腔室101對應的存儲箱20連接，所述過濾器30的另一端通過第二管道50與下一級腔室102連接；其中，至少在管道40或所述第二管道50上設置有閥門開關60。具體的，圖1所示出的是閥門開關60設置在管道40上的示例圖。當當前級別腔室101對應的過濾器30被薄膜碎屑阻塞后，通過閥門開關60關閉當前級別腔室101對應的存儲箱20與過濾器30之間的液體流通。剝離液的正確使用方式；上海剝離液報價

能夠除去抗蝕劑。用本發明剝離液處理施加有抗蝕劑的基材的條件沒有特別限定，例如，可以舉出在設為10～80℃的本發明剝離液中浸漬基材1～60分鐘左右的條件、將設為10～80℃的本發明剝離液向基材噴霧1～60分鐘左右的條件。需要說明的是，浸漬時，可以搖動基材，或對本發明剝離液施加超聲波。抗蝕劑的種類沒有特別限定，可以是例如干膜抗蝕劑、液體抗蝕劑等中的任一種。干膜抗蝕劑的種類也沒有特別限定，例如推薦堿可溶型的干膜抗蝕劑。作為這樣的堿可溶型的干膜抗蝕劑，例如，可以舉出rd-1225(sap用25μm厚)(日立化成株式會社制)等。施加抗蝕劑的基材沒有特別限定，例如，可以舉出印刷布線板、半導體基板、平板顯示器、引線框中使用的各種金屬、合金所形成的、薄膜、基板、部件等。按照上述方式本發明剝離液能夠從施加有抗蝕劑的基材除去抗蝕劑，因此能夠在包括除去這樣的抗蝕劑的工序的印刷布線板、半導體基板、平板顯示器、引線框等的制造方法中使用。上述制造方法之中推薦包括從施加有抗蝕劑的基材除去抗蝕劑的工序的印刷布線板的制造方法，特別推薦基于半加成法的印刷布線板的制造方法。本發明剝離液能夠除去的線/間距(l/s)沒有特別限定。無錫銅鈦蝕刻液剝離液供應蘇州剝離液哪里可以買到；

    本申請涉及半導體工藝技術領域，具體涉及一種剝離液機臺及其工作方法。背景技術：剝離(lift-off)工藝通常用于薄膜晶體管(thinfilmtransistor)制程中的光罩縮減，lift-off先形成光阻并圖案化，再在光阻上成膜，移除光阻的同時，沉積在光阻上的膜層也被剝離，從而完成膜層的圖形化，通過該制程可以實現兩次光刻合并為一次以達到光罩縮減的目的?，F有技術中，由于光阻上沉積了薄膜(該薄膜材料可以為金屬，ito(氧化銦錫)等用于制備tft的膜層)，在剝離光阻的同時薄膜碎屑被帶入剝離液(stripper)中，大量的薄膜碎屑將會導致剝離液機臺中的過濾器(filter)堵塞，從而導致機臺無法使用，并且需要停止所有剝離液機臺的工作，待將filter清理后再次啟動，降低了生產效率。技術實現要素：本申請實施例提供一種剝離液機臺及其工作方法，可以提高生產效率。本申請實施例提供一種剝離液機臺，包括：依次順序排列的多級腔室、每一級所述腔室對應連接一存儲箱；過濾器，所述過濾器的一端設置通過管道與當前級腔室對應的存儲箱連接，所述過濾器的另一端通過第二管道與下一級腔室連接；其中，至少在所述管道或所述第二管道上設置有閥門開關。在一些實施例中。

    若所述過濾器被所述薄膜碎屑阻塞，則關閉連接被阻塞的所述過濾器的管道上的閥門開關；取出被阻塞的所述過濾器。在一些實施例中，所述若所述過濾器被所述薄膜碎屑阻塞，則關閉連接被阻塞的所述過濾器的管道上的閥門開關包括：若所述過濾器包括多個并列排布的子過濾器，則關閉連接被阻塞的所述子過濾器的管道上的閥門開關。本申請實施例還提供一種剝離液機臺，包括：依次順序排列的多級腔室、每一級所述腔室對應連接一存儲箱；過濾器，所述過濾器的一端設置通過管道與當前級腔室對應的存儲箱連接，所述過濾器的另一端通過第二管道與下一級腔室連接；其中，至少在所述管道或所述第二管道上設置有閥門開關開關。通過閥門開關控制連接每一級腔室的過濾器相互獨立，從而在過濾器被阻塞時通過閥門開關將被堵塞的過濾器取下并不影響整體的剝離進程，提高生產效率。附圖說明為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本申請的一些實施例，對于本領域技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本申請實施例提供的剝離液機臺的種結構示意圖。剝離液的配方是什么？

    本發明下述示例性實施例可以多種不同的形式來實施，并且不應當被解釋為只限于這里所闡述的具體實施例。應當理解的是，提供這些實施例是為了使得本發明的公開徹底且完整，并且將這些示例性具體實施例的技術方案充分傳達給本領域技術人員。如圖1所示，本發明提供的光刻膠剝離去除方法主要實施例，用于半導體制造工藝中，可應用于包括但不限于mos、finfet等所有現有技術中涉及光刻膠剝離去除的生產步驟，主要包括以下步驟:s1，在半導體襯底上淀積介質層；s2，旋涂光刻膠并曝光顯影，形成光刻圖形阻擋層；s3，執行離子注入：s4，采用氮氫混合氣體執行等離子刻蝕，對光刻膠進行干法剝離；s5，對襯底表面進行清洗。本發明刻膠剝離去除方法主要實施例采用能與主要光刻膠層和第二光刻膠層反應生成含氨揮發性化合物氣體，與主要光刻膠層和第二光刻膠層反應速率相等的等離子體氮氫混合氣體能更高效的剝離去除光刻膠，有效降低光刻膠殘留。進而避免由于光刻膠殘留造成對后續工藝的影響，提高產品良率。參考圖11和圖12所示，在生產線上采用本發明的光刻膠剝離去除方法后，監控晶圓產品缺陷由585顆降低到32顆，證明本發明光刻膠剝離去除方法的的改善的產品缺陷，促進了產品良率的提升。剝離液的使用方法和條件；上海剝離液報價

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    該方法包括：步驟110、將多級腔室順序排列，按照處于剝離制程的剝離基板的傳送方向逐級向剝離基板提供剝離液；步驟120、將來自于當前級腔室經歷剝離制程的剝離液收集和存儲于當前級腔室相應的存儲箱中，所述剝離液中夾雜有薄膜碎屑；步驟130、使用當前級腔室相應的過濾器過濾來自當前級腔室的剝離液并將過濾后的剝離液傳輸至下一級腔室；步驟140、若所述過濾器被所述薄膜碎屑阻塞，則關閉連接被阻塞的所述過濾器的管道上的閥門開關；步驟150、取出被阻塞的所述過濾器。若過濾器包括多個并列排布的子過濾器，則可以關閉被阻塞的子過濾器的閥門，因此，步驟140還可以包括：若所述過濾器包括多個并列排布的子過濾器，則關閉連接被阻塞的所述子過濾器的管道上的閥門開關。在上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側重，某個實施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實施例的相關描述。以上對本申請實施例進行了詳細介紹，本文中應用了具體個例對本申請的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本申請的技術方案及其思想；本領域的普通技術人員應當理解：其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換。上海剝離液報價