并可計算出待測物的距離。在很多案例中，以**形激光條紋取代單一激光光點，將激光條紋對待測物作掃描，大幅加速了整個測量的進程。NationalResearchCouncilofCanada是致力于研發三角測距激光掃描技術的協會之一（1978）。手持激光（HandholdLaser）手持激光掃描儀透過上述的三角形測距法建構出3D圖形：透過手持式設備，對待測物發射出激光光點或線性激光光。以兩個或兩個以上的偵測器（電耦組件或位置感測組件）測量待測物的表面到手持激光產品的距離，通常還需要借助特定引用點－通常是具黏性、可反射的貼片－用來當作掃描儀在空間中定位及校準使用。這些掃描儀獲得的數據，會被導入電腦中，并由軟件轉換成3D模型。手持式激光掃描儀，通常還會綜合被動式掃描（可見光）獲得的數據（如待測物的結構、色彩分布），建構出更完整的待測物3D模型。一般使用區塊比對（block matching）或對極幾何（epipolar geometry）算法達成。無錫本地高精度反向定位掃描儀概念設計

早期由B.K.P.Horn等學者提出，使用視頻像素的亮度值代入預先設計之色度模型中求解，方程式之解即深度信息。由于方程組中的未知數多過限制條件，因此須借由更多假設條件縮小解集之范圍。例如加入表面可微分性質（differentiability）、曲率限制（curvatureconstraint）、光滑程度（smoothness）以及更多限制來求得精確的解。此法之后由Woodham派生出立體光學法。立體光學法（PhotometricStereo）為了彌補光度成形法中單張照片提供之信息不足，立體光學法采用一個相機拍攝多張照片，這些照片的拍攝角度是相同的，其中的差別是光線的照明條件。**簡單的立體光學法使用三盞光源，從三個不同的方向照射待測物，每次*打開一盞光源。徐州微型高精度反向定位掃描儀密度這類被動式產品往往相當便宜。

光信號往返一趟的時間即可換算為信號所行走的距離，此距離又為儀器到物體表面距離的兩倍，故若令{\displaystylet}為光信號往返一趟的時間，則光信號行走的距離等于{\displaystyle(c\cdott)/2}。顯而易見的，時差測距式的3D激光掃描儀，其量測精度受到我們能多準確地量測時間{\displaystylet}，因為大約3.3皮秒（picosecond；微微秒）的時間，光信號就走了1毫米。激光測距儀每發一個激光信號只能測量單一點到儀器的距離。因此，掃描儀若要掃描完整的視野（fieldofview），就必須使每個激光信號以不同的角度發射。而此款激光測距儀即可透過本身的水平旋轉或系統內部的旋轉鏡（rotatingmirrors）達成此目的。旋轉鏡由于較輕便、可快速環轉掃描、且精度較高，是較廣泛應用的方式。典型時差測距式的激光掃描儀，每秒約可量測10,000到100,000個目標點。

**簡單的立體光學法使用三盞光源，從三個不同的方向照射待測物，每次*打開一盞光源。拍攝完成后再綜合三張照片并使用光學中的完美漫射（perfectdiffusion）模型解出物體表面的梯度向量（gradients），經過向量場的積分后即可得到三維模型。此法并不適用于光滑而不近似于朗伯表面（Lambertiansurface）的物體。輪廓法此類方法是使用一系列物體的輪廓線條構成三維形體。當物體的部分表面無法在輪廓線上展現時，重建后將丟失三維信息。常見的方式是將待測物放置于電動轉盤上，每次旋轉一小角度后拍攝其視頻，再經由視頻處理技巧去除背景并取出輪廓線條，搜集各角度之輪廓線后即可“刻劃”成三維模型。光滑程度（smoothness）以及更多限制來求得精確的解。

結構光源（StructuredLighting）將一維或二維的圖像投影至被測物上，根據圖像的形變情形，判斷被測物的表面形狀，可以非常快的速度進行掃描，相對于一次測量一點的探頭，此種方法可以一次測量多點或大片區域，故能用于動態測量。調變光（ModulatedLighting）調變光三維掃描儀在時間上連續性的調整光線的強弱，常用的調變方式是周期性的正弦波。借由觀察視頻每個像素的亮度變化與光的相位差，即可推算距離深度。調變光源可采用激光或投影機，而激光光能達到極高之精確度，然而這種方法對于噪聲相當敏感。此種方法可以一次測量多點或大片區域，故能用于動態測量。徐州微型高精度反向定位掃描儀密度

搜集各角度之輪廓線后即可“刻劃”成三維模型。無錫本地高精度反向定位掃描儀概念設計

電子元器件是構成電子信息系統的基本功能單元，是各種電子元件、器件、模塊、部件、組件的統稱，同時還涵蓋與上述電子元器件結構與性能密切相關的封裝外殼、電子功能材料等。電子元器件自主可控是指在研發、生產和保證等環節，主要依靠國內科研生產力量，在預期和操控范圍內，滿足信息系統建設和信息化發展需要的能力。電子元器件關鍵技術及應用，對電子產品和信息系統的功能性能影響至關重要，涉及到工藝、合物半導體、微納系統芯片集成、器件驗證、可靠性等。回顧過去一年國內掃描儀產業運行情況，上半年市場低迷、部分外資企業產線轉移、中小企業經營困難，開工不足等都是顯而易見的消極影響。但隨著掃描儀產業受到相關部門高度重視、下游企業與元器件產業的黏性增強、下游 5G 在產業發展前景明朗等利好因素的驅使下，我國電子元器件行業下半年形勢逐漸好轉。當前國內掃描儀行業發展迅速，我國 5G 產業發展已走在世界前列，但在整體產業鏈布局方面，我國企業主要處于產業鏈的中下游。在產業鏈上游，尤其是掃描儀和器件等重點環節，技術和產業發展水平遠遠落后于國外。無錫本地高精度反向定位掃描儀概念設計

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