在軸承鍛造工序中，對鍛件進行整徑是一道關鍵工序。如果軸承鍛件溫度過低，鍛造中會造成鍛件內部裂紋。該裂紋是無法用肉眼看到的。一旦該鍛件流到下一道工序，會給后期的鍛件質量檢測帶來很大工作量。如果在鍛件抽樣檢測中沒能及時發現質量問題而流入市場，會嚴重影響軸承的使用壽命。當前，鍛造行業普遍對始鍛溫度進行檢測，而對終鍛溫度則沒有進行有效控制。有部分對鍛件溫度進行檢測，檢測結果靠操作人員的質量意識去決定。而連續工作過程中工人容易出現意識疲勞。對軸承鍛件終鍛的溫度檢測，**重要的是達到100%的溫度合格，不讓一個不合格品流入下一道工序。在鍛件整徑完成后，工人把完成的鍛件移出工作臺。為克服上述技術不足，設計了壓力機與紅外溫度計聯機控制裝置。雙色紅外測溫儀測量絕大數灰體材料時不需要修正雙色系數，雙色測溫儀測量一個區域內最高溫度的平均值。DT42G紅外測溫儀批發

在發射率變化10%時，溫度測量的誤差百分比。比如在1000°C，使用8-14μm(參見**上面的一條黃色線)的紅外測溫儀或熱像儀測溫時，那么誤差%=8%，所以：在1000°C時，誤差測量的***誤差=1000°Cx8%=80°C。同樣的，我們也可以像第一張圖一樣算出1μm時的在1000°C的誤差為12°C，在1500°C時的誤差為近20°C。也就是說，上面2個圖是完全一樣的；上面2個圖都說明，溫度越高，紅外測溫設備誤差越來越大；高溫時，尤其是超過1000°C時，盡量使用短波測量高溫--就是說，紅外測溫儀或紅外熱像儀使用的波長越短，其測量誤差要比波長越長的要低得多。這就是為什么使用紅外測溫時，使用的波長越短越好。上海市S50-SH2H紅外測溫儀紅外人體測溫儀的校正分成自然環境溫度與黑體字溫度校正。

聚光科技（杭州）股份有限公司杭州譜育科技發展有限公司制造的AI智能型紅外熱成像分析系統使用非接觸紅外測溫儀原理，有效辨別溫差，可避免其他高溫物體的干擾，具備效率高、精度高，智能識別等優點，可進行大面積監測篩查工作，快速精確識別高溫人員。 截止目前，首批近百套由譜育科技制造的AI智能型紅外熱成像分析系統已全部緊急調撥派往前線，先后在北京首都機場、北京大興機場等京津冀、長三角的機場、車站、醫院等人員流動密集區域投入使用。

半導體高溫計全球市場規模預計2029年將達到62.1百萬美元1.半導體紅外測溫儀定義半導體溫度計是利用半導體元件與溫度具有的特性關系構成的溫度測量儀表。由熱敏電阻、連接導線和顯示儀表組成，具有靈敏度高、構造簡單和體積小等優點，半導體高溫計通常用于測量半導體材料的溫度。半導體高溫計主要可以分為光學高溫計和紅外高溫計光學高溫計（也稱為亮度高溫計）測量0.4至0.7微米的可見光光譜中的溫度，統計中包括光學高溫計基礎上發展的光電式高溫計，高溫計在0.655微米的有效波長下校準，可測700℃-3200℃的高溫，與紅外溫度計相比，由不確定的發射率或外來反射光而導致的誤差較少。光學高溫計用于許多工業應用，以測量非接觸式高溫測量。紅外高溫計在0.7至14微米的紅外光譜中測量溫度，測溫范圍廣闊，從零下幾十度的低溫到3000度的高溫均可測得。紅外高溫計使用光學裝置對準物體某一點并測定該點溫度。現在高溫計的典型光譜響應位于近、中和長紅外區。選擇短波長測溫，可以使紅外測溫儀受發射率的影響降到比較低。

短波和長波紅外實際測量效果比較這是德國DIAS紅外公司做的測試，測量同一個電熱塞或預熱塞(GlowPlug)時做的熱像儀測試，測試的紅外熱像儀如下：長波紅外熱像儀PYROVIEW640Lcompact+(-20~1200°C)短波紅外熱像儀PYROVIEW512Ncompact+(600~1500°C)采用相同的發射率、透過率。測量結果比較可見：短波紅外熱像儀測量的最高溫度是960°C，而長波紅外熱像儀測量的最高溫度是460°C--最高溫度的誤差達到了500°C右側的長波紅外熱像儀的溫度曲線波動很大，而左側短波紅外熱像儀的溫度曲線波動卻很小紅外測溫儀精確：0.3℃的溫度偏差，*次容柵液態**溫度計的0.2℃偏差。DSR10NF紅外測溫儀技術參數

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